A inspeção de semicondutores é uma etapa crítica para garantir o rendimento e a confiabilidade em todo o processo de fabricação de circuitos integrados. Como detectores de núcleo, as câmeras científicas desempenham um papel decisivo — sua resolução, sensibilidade, velocidade e confiabilidade impactam diretamente a detecção de defeitos em micro e nanoescala, bem como a estabilidade dos sistemas de inspeção. Para atender às diversas necessidades de aplicação, oferecemos um portfólio abrangente de câmeras, desde escaneamento de alta velocidade em grande formato até soluções avançadas de TDI, amplamente utilizadas em inspeção de defeitos em wafers, testes de fotoluminescência, metrologia de wafers e controle de qualidade de embalagens.